参考试块的用途
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参考试块的用途 [已经被阅读2264次,管理员 添于2012-9-14]

参考试块的用途
    一、可测定仪器及探头的性能
    参考试块可用来测定扫描线性、盲区、分辨力、波束特性等。同时也可测定仪器的“距离--振幅”特性及“面积--振幅”特性。所谓“距离一振幅”特性,即试块中人工缺陷(一般为平底孔)的面积相同,但距离不同时.探测人工缺陷,反射波高度的变化情况。“面积--振幅”特性则相反,即探测试块中人工缺陷面积相同,但距离不同时,反射波高度的变化情况。
    二、调整和控制探伤灵敏度
    根据探伤的要求,在规定的参考试块上调整仪器灵敏度,使缺陷波达到规定的高度,在探伤过程中或间隔一段时间后,仍用该试块调整,以保证灵敏度恒定不变。
    三、确定缺陷的大小
    在与缺陷距离相同,但人工缺陷直径不同的试块上探测,当某一人工缺陷的反射波高度与实际缺陷反射波高度相等或接近时,该人工缺陷的尺寸即为实际缺陷的当量尺寸。

常用的参考试块
一、定量(定位)用参考试块
    (一)直探头用试块
    CS-1型试块材料为优质碳素钢。
    CS-2型试块。
    学振III型试块。
    (二)料探头用试块
    三角试块,这种试块的材料为碳素钢,试块为直角三角形,其中一个角度β应等于斜探头在钢材中的折射角,斜探头入射角与在钢材中的折射角的对应关系。
    CSK-II型试块。
    CSK-III型试块。
二、校验用参考试块
    CSK-I型试块
三、其他试块
  中、厚板材探伤用试块。薄板探伤用试块。

 
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