高压瓷瓶超声波探伤仪
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高压瓷瓶超声波探伤仪 [已经被阅读4729次,管理员 添于2012-9-10]

陶瓷——高压瓷瓶的探伤
    高压瓷瓶的主要缺陷有裂纹、夹杂、气孔等。这些缺陷会降低它的机械强度和介电强度。用超声波主要探测高压瓷瓶中的纵向裂纹、横向裂纹并可由声速决定其气孔率。探测频率一般为2~5兆赫。对未加工的瓷坯用水浸法探测时,可用0.5~2兆赫。探测高压瓷瓶除了一般探头外,还有专用探头,即发射纵波的扁平探头及发射横波的S形探头,这两种探头的接触面狭小,可放在绝缘子两个紧靠的瓷盘之间探测。S形探头的有机玻璃接触面有一弧度,与高压瓷瓶的曲面有良好的吻合。(推荐使用武汉格莱莫超声波探伤仪,电话:027-86619996)
    一、纵向裂纹的探测
    实心绝缘子的瓷心纵向裂纹,可用4兆赫扁平探头(纵波)在金属盖与瓷盘之间或两个瓷盘之间的瓷圆柱面上探测,瓷心无缺陷时,在荧光屏固定的位置出现很清晰的底波;有缺陷时,在底波之前出现缺陷波。
    二、横向裂纹的探测
    实心绝缘子在金属盖内紧靠瓷圆柱体的末端面,易产生横向裂纹,可用S形探头(横波)在金属盖与第一个瓷盘(或第一个与第二个)之间的瓷圆柱体面上探测,如图一所示。探头角度的选择,应使波束可能射到金属盖的瓷圆柱体的端面上,为此,需选择扩散角人的探头。探测时,探头沿圆周运动,同时尽可能的在瓷盘之间前后移动。无缺陷时,在荧光屏上一定位yl处出现金属盖内瓷圆柱体端面反射波,有裂纹时,在端面反射波前出现缺陷波。实心绝缘子的横向裂纹也可用纵波在绝缘子的端面上探测,用纵波探测不同长度的绝缘子时,要考虑到声束的指向性,这主要由频率决定。例如绝缘子长在1000毫米以上时,用1兆赫;长在450~700毫米时,用2.5兆赫,长在450毫米以下时,用5兆赫。

陶瓷超声波探伤仪
    三、气孔率测定
    气孔率的测定,在早期,用2兆赫的直探头,在两平行端面上探测,以底部多次反射波的衰减情况,刘断气孔的多少。衰减愈大,气孔愈多。但也有衰减变化轻微,而声速的变化很大。因此,以测定超声波的传播速度,来决定绝缘子的气孔,是可靠的方法。实验证明,传播速度在5350m/s以上是好的;在5100m/s以下有密集气孔,在5100~5350m/s之间,则或多或少有气孔。

 
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