以底波强度为基础的定纽法
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以底波强度为基础的定纽法 [已经被阅读2078次,管理员 添于2012-8-6]

    (一)底波百分比法
    因缺陷波高度与缺陷面积成正比,而底波高度则与缺陷面积成反比。因此,当工件底面甚大于声束截面积且缺陷波未达饱和时,以底波高度为基准,用缺陷波高度与底波高度之比,表示缺陷相对大小的方法,称底波百分比法,简称FIB法。采用这种方法时,探测灵敏度是在工件的无缺陷部位上校正,使底波高度达荧光屏的满幅度。当发现缺陷后,移动探头使缺陷波达最高,此时记下缺陷波和底波高度,由FIB式求得缺陷的相对大小。为获得面积一波高的线性比例关系,所用仪器的动态范围及垂直线性应良好。
    近年来又提出了F/Bt和F/BG定量法。前者是指缺陷波高度与同深度无限大平面反射波高度之比;后者是指缺陷波高度与底波高度之比。当发现缺陷时,测出缺陷波高度F,然后将探头移至工件无缺陷的部位,测出底波高度BG,则缺陷的大小为两者的比值,即F/BG。有些标准规定,以特定的灵敏度,使某一反射面的波高至规定高度,称为墓准波高,当发现缺陷时,将缺陷波高度与基准波高度之比,作为缺陷大小,此法称为F/K法。

    底波百分比法的优点是,不必考虑探头接触状态、探测面形状、材质、权合剂等因素的影响,也不需要试块,探测灵敏度可直接在被测工件上校正;其缺点是不能得到缺陷的真实大小,未考虑当缺陷面积相同而距离变化时,或者探头直径、频率变化时,所引起F/B值的变化。   

 (二)声压比法
    缺陷波和底波高度与缺陷反射声压(尸)及底面反射声压(尸。)成正比,而声压比又可以分贝值(dB)表示:
        dB=20 log P/Po=20 log P一20 log PO即分贝值为两声压对数值之差。因此,在配有衰减器的仪器中,当测知底波和缺陷波的相对分贝值,并求出两者之差后,根据图4-29换算出声压比尸/尸。值。即以此值表示缺陷的大小。
    底波和缺陷波分贝值之差的求法:
    1.缺陷波低于底波时,记下缺陷波的高度及衰减
器的分贝值,调整衰减器使底波高度等于缺陷波原高度。·此时衰减器上分贝值的改变量,即为两者之差,其差为负值。
2.缺陷波高于底波时,记下底波的高度及衰减器的分贝值。调整衰减器,使缺陷波
高度等于底波原高度。此时衰减器分贝值的改变量,即为两者之差,其差为正值。
    3.缺陷波无论高于或低于底波,调整衰减器使缺陷波或底波皆至基准高度,这时衰减器分贝值变化量之差,即为底波或缺陷波分贝值之差。缺陷波低于底波时,差值为负,反之为正。

 
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