面积、距离振幅和灵敏度曲线当量法
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面积、距离振幅和灵敏度曲线当量法 [已经被阅读2619次,管理员 添于2012-8-2]

    “面积一振幅”曲线和“距离一振幅”曲线当量法
  陷波幅的高低与缺陷的面积及距离有关。距离相等的缺陷,面积愈大,反射波愈高,距离愈远,反射波愈低(远场区)。据此,可通过试块预先作出“面积一振幅”曲线和“距离一振幅”曲线。可通过这些曲线来确定缺陷的大小。在绘制这两种曲线时,必须记录当时所用的工作频率、探头直径、输出、增益等探测条件。
实际探测与所作曲线的条件相同时,根据荧光屏上缺ml波的高度及距离,即可由“面积一振幅”曲线或“距离一振幅”曲线查出相应的缺陷面积。这种方法的优点是,在校正仪器灵敏度时,只需要携带少量试块,便于现场使用,但所用仪器的性能要稳定。
    灵敏度曲线当量法
    这种方法也是根据在不同的缺陷尺寸和距离的试块上作出曲线而进行探测的。除仪器的“增益”旋钮外,其他(如频率、输出、抑制等)均固定不变。在各试块上探测时,调节“增益”旋钮(调节灵敏度),使缺陷波均达规定高度C一般30毫米),记下相应的“增益”刻度,即可绘制出如图4-22所示的“增益刻度一缺陷尺寸一缺陷距离”的关系曲线。实际探测时,调节“增益”刻度使缺陷波亦达上述规定高度则根据“增益”刻度及缺陷距离,即可在曲线上查出缺陷当量的大小。

 
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