仪器及探头的影响
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仪器及探头的影响 [已经被阅读1810次,管理员 添于2012-7-28]

仪器的影晌
    1.发射功率大,反射波高;
    2.放大倍数高,反射波高;
    3.频率高于某一值(对同样介质的工件)时,声波在工件中的衰减大,反射波低;
    4.放大器恢复时间长,近距离的反射波低;
    5.放大器动态范围小,缺陷面积变化不大时,反射波即达到饱和值,不再随缺陷面积的增大而增高;
    6.仪器的“增益"、“抑制”、“补偿”、“输出”等旋钮的调节,直接影响反射波的高低。
探头的影晌
    1.压电晶片的换能效率高者,反射波高;
    2.探头的自然频率与仪器的发射频率相等或接近时,反射波高;
    3.吸收块的声阻抗Z与晶片及工件的声阻抗(Z1, Z2)相匹配时,反射波高。

 
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