影响探伤波形高度的因素
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影响探伤波形高度的因素 [已经被阅读2189次,管理员 添于2012-7-26]

影响探伤波形高度的因素
    在实际探测中,有很多因素(如仪器、探测条件、工件形状、材质、缺陷等)影响探伤波形的高度,任何一个因素变化时,都会改变探伤波形。为此,‘下面介绍影响超声波探伤波形高度的各种因素。用脉冲反射法探测时,其影响波形高度的各种因素。

一、接触条件的影晌
为使声波尽可能多的入射工件,在探头与工件之间,必须涂一层耦合剂(机油或水)。藕合剂的厚度对声波的导入有很大影响,当厚度等于四分之一波长时,穿透能量最小,此后,厚度与波长之比为二分之一波长的整数倍时,穿透能量最大,其比值为四分之一波长的奇数倍时,穿透能量最小。当耦合剂厚度与声波波长之比(在藕合剂中的波长)在千分之一以下时,绝大多数声能导入工件,大于千分之一时,穿透能量减小。藕合剂以机油为例,声波在钢中的穿诱率。
    二、工件的影晌

    1.表面光洁度  工件表面光洁度愈好(即探买与工件的接触条件愈好),反射波愈高。所以,工件表面光洁度一般要求在▽6以上。
    2.工件形状同一探测距离的工件,由于探测面与底面的形状不同,对反射波的高度也有影响。图3-7所示为探测面形状不同时,缺陷波高度与底波高度之比(F/B)的变化情况。

    3.工件材质   材料的晶粒大小和排列方向及结晶的均匀度等,均影响反射波高度。声波顺着晶粒的排列方向传播时,衰减小,反射波高;结晶不均匀时,声波衰减大,反射波低。晶粒粗,声波衰减大,反射波低,当探测频率或灵敏度高时,还会产生晶粒反射波,衰减严重,甚至无缺陷波和底波出现。探头移动时,晶粒反射波的位置和高度有变化。

 
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